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ブイワンテック、SiCリング自動外観検査装置を開発・受注
公開日: · 出典: hankyung.com
要点: ブイワンテックが半導体の中核部品とされるSiCリング向け自動外観検査装置を開発し、受注したとhankyung.comが報じた。
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ブイワンテックは、半導体の中核部品であるSiCリング向け自動外観検査装置を開発し、関連装置を受注した。今回の発表は、SiCリングの検査工程に自動外観検査装置が適用される事例として、半導体部品の品質確認と検査効率化の面で注目される。原文によると、同社はSiCリングを対象にした自動外観検査装置の開発と受注の事実を明らかにした。具体的な受注規模や供給日程などの追加数値は示されていない。出典: hankyung.com
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