V-One Tech développe et reçoit une commande d’inspection des anneaux SiC

V-One Tech a développé un équipement d’inspection visuelle automatique pour les anneaux SiC, un composant clé des semi-conducteurs, et a reçu une commande liée à cet équipement. L’information met en avant l’application de l’inspection visuelle automatique au processus de contrôle des anneaux SiC, avec un intérêt pour la vérification de la qualité des composants et l’efficacité de l’inspection. Selon le texte original, l’entreprise a annoncé le développement et la commande de cet équipement destiné aux anneaux SiC. Aucun montant de commande ni calendrier de livraison n’a été précisé. Source: hankyung.com